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Accoustic Microscopes from KSISAM

v-Serie

Die v-Serie steht für eine neue Generation von Ultraschall- Mikroskopen. Basierend auf einem neu entwickelten Hochgeschwindigkeits- Scanner...

  • Extrem hohe Scan-Geschwindigkeit
  • Im Durchschnitt 30% kürzere Scanzeiten als bei vergleichbaren Produkten
  • Ausgezeichnetes Preis-Leistungs-Verhältnis

Nachrüstungen / Optionen

Fast alle KSI SAM Systeme können nach- oder aufgerüstet werden, um die Funktionalität, Leistung und Bedienung zu erweitern. Abhängig von dem existierenden SAM sind verschiedene Hard- und Software Erweiterungen verfügbar:

  • 4D Software
  • Auto Focus 2.0 (Software)
  • HD Scan (Hard- & Software)

Kundenspezifische SAM Lösungen

Wir erarbeiten in enger Zusammenarbeit mit dem Kunden spezielle Lösungen, die nahezu jede Ultraschalluntersuchung der Proben ermöglichen. Unsere langjährige Erfahrung beruht auf unzähligen Lösungen industrieller SAM-Ultraschalluntersuchungen jeglicher Art (Automotive, Frontend, Backend, Semiconductor, Wafer, IC's, IGBT, Air&Defense, Aerospace etc.). Semi-oder vollautomatisierte Standalone-Anlagen ebenso wie Inline-Systeme...


    Anwendungen

    Unsere akustischen Mikroskope sind für die verschiedensten Anwendungsgebiete einsetzbar.
    Profitieren Sie von unserer Erfahrung in der Lösung von Prüfaufgaben verschiedenster Art. Wie z.B. die Inspektion von Halbleiter- und Solarprodukten im Front- und Backendbereich, die Analyse von Automotive- und Aerospacekomponenten sowie die Lösung materialwissenschaftlicher Probleme. Wir bieten für nahezu jede Prüfaufgabe die massgeschneiderte Lösung.

    Innovation seit über 30 Jahren

    Acoustic Microscopy - best personal

    Kundenspezifische SAM Lösungen


    speziell nach Kundenanforderung entwickelt und gebaut.

    Acoustic Microscopy scanning technology

    Standard SAM Lösungen


    sind ebenfalls von KSI zu einem exzellenten Preis erhältlich. Die v-Serie bietet eine herausragende Leistung für die meisten Anwendungen im bereich der Forschung und der Produktion.

    Acoustic Microscopy high end scanners

    SAM und AMI Innovationen


    für Bonded Wafers, MEMS, Through-silicon Vias (TSV), LEDs, Sensor, IGBT, PCB, Automotive, Air and Defense, Bonding Layers, Defects, Delaminations, Voids, Cracks and Porosity. Bio Med und Geology Applikationen.

    Ultraschall Analyse & Acoustic Micro Imaging

     © KSI

    KSI SAM: Zerstörungsfreie Messtechnik und quantitative Materialprüfung

    Seit vielen Jahren liefern wir Akustische Mikroskope, Transducer, Pulser und Receiver in die ganze Welt. Die bekannte KSI Qualität ist ein Garant für beste Ergebnisse.

    Durch eine neue, patentierte, strömungsoptimierte Form des Transducers werden Turbulenzen (Luftblasen) und Wellenbildung im Koppelmedium deutlich reduziert. Dadurch kann die Scangeschwindigkeit mit entsprechender Synchronisierungselektronik um 50% erhöht werden!