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Accoustic Microscopes from KSISAM

v-Serie / v 300

© Das neue KSI v300 Scanning Acoustic Mikroskop ist ab sofort verfügbar. Es enthält alle Vorteile der bisherigen KSI-Systeme und verfügt darüber hinaus über die fortschrittlichsten neuen Funktionen für die SAM-Technologie.

• All-in-One-Scanning-Mikroskop für die Inspektion von Flipchips, gestapelten DIE-, IGBT-, Wafer-, MLCC-, Solarzellen und anderen Halbleiter- sowie Materialwissenschaften • Entkoppelungsfreie Granitkonstruktion und Hochgeschwindigkeits-Linearantrieb mit max. Bewegungsgeschwindigkeit 2.000 mm / s und maximale Beschleunigung 30.000 mm / s²
• Einzigartiger FCT ™ (Fluid Cut Technology) Transducer

Hauptmerkmale der v 300
  • Scan-bereich: 300 mm x 300 mm
  • Ergonomische, benutzerfreundliche Abdeckung für einfache Probenplatzierung
  • Probenbehälter 546 mm x 860 mm x 120 mm mit Wasserablassventil
  • Kompaktes Design 885 x 900 x 1332 mm (BxTxH)
  

v-Serie

v-Serie

Die v-Serie steht für eine neue Generation von Ultraschall- Mikroskopen. Basierend auf einem neu entwickelten Hochgeschwindigkeits- Scanner und der patentierten...

Kundenspezifische SAM Lösungen

Wir erarbeiten in enger Zusammenarbeit mit dem Kunden spezielle Lösungen, die nahezu jede Ultraschalluntersuchung der Proben ermöglichen. Unsere langjährige...

Nachrüstungen / Optionen

Fast alle KSI SAM Systeme können nach- oder aufgerüstet werden, um die Funktionalität, Leistung und Bedienung zu erweitern. Abhängig von dem existierenden...
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